NX-1032XS平移式IC测试分选机，原EPSON设备，之后被NST收购。主要用于IC测试分类，提供顶级水平的高产能、稳定性，为提高客户生产力做出贡献。

一、同时测量次数- 测试站点：

一次可以测量的设备数。

同时测量的数量越多，加工件的数量就越多，效率就越高。

目前，2~16 次测量是主流，未来将实施32 次测量。

二、吞吐量、UPH：

一小时内可以处理的工件越多，性能就越高。

但是，测试时间越长，可以处理的件数就越少。

我们正在朝着通过运输大量工件和增加同时测量次数来提高吞吐量的方向发展。

三、Index Time：

更换插槽中的设备的时间。

从套接字中取出经过测试的设备到将未经测试的设备输入套接字之间的时间。

越短，处理能力越高，0.4~0.6sec 的索引时间是主流。

四、温度应用范围Temperature Range：

能够对设备施加温度进行测试。

常温和高温机器可施加高达50°C~130°C，温度精度±3°C 是常见的。

由于车载设备数量的增加，温度范围不断扩大，温度精度不断提高。

常・高温機（NS-8040/80SH・NS-8080/8160MS・NX-1032XS）

50℃～130℃ ±3℃

↓

50℃～155℃ ±3℃（175℃选择）

＊还需要2°C ±温度精度