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涨知识:ESD测试对芯片的重要性

发表时间: 2023-03-03 15:05:50

作者: betway88中文官网半导体装备(深圳)有限公司

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众所周知,半导体测试贯穿了半导体整个产业链,从芯片设计、晶圆制造以及最后的芯片封装环节都需要进行相应的测试,以保证产品的良率。测试设备主要有芯片测试机、IC探针

众所周知,半导体测试贯穿了半导体整个产业链,从芯片设计、晶圆制造以及最后的芯片封装环节都需要进行相应的测试,以保证产品的良率。测试设备主要有芯片测试机、IC探针台和分选机等三大类设备。在用芯片测试机对芯片测试的过程中,ESD测试指标是一项非常关键的指标来表征芯片的可靠性,今天和大家分享在芯片测试中的ESD测试。


                  什么是ESD

ESD是英文:Electro-Static discharge 的缩写,即"静电放电"的意思。

静电是一种客观的自然现象,产生的方式多种,如接触、摩擦等。静电的特点是高电压、低电量、小电流和作用时间短的特点。


静电的危害:静电在我们的日常生活中可以说是无处不在,我们的身上和周围就带有很高的静电电压,几千伏甚至几万伏。平时可能体会不到,人走过化纤的地毯静电大约是35000伏,翻阅塑料说明书大约7000伏,对于一些敏感芯片来讲,这个电压可能会是致命的危害,一台好的芯片测试机,通过精确测试,给芯片做到较为准确的良率。


                   ESD对芯片的影响

在芯片测试过程中,ESD是一项非常关键的指标来表征芯片的可靠性。ESD在生活中随处可见,但在芯片测试中,将其归于几种模型,在保证其可靠性的同时,方便测试。
ESD测试归于两个大类,一种是芯片级ESD,另外一种是板级ESD。

芯片级ESD,我们日常使用芯片时,时不时会用手拿芯片,或者用镊子拿芯片,都会有或多或少的ESD。其实在我们平常的环境或者实验室环境是没有那么高的ESD的,通常的芯片是扛得住的,不会对芯片造成致命伤,而在生产线上的ESD可能会比较高,注重良率的地方,会比较强调带静电手环,静电手套等。

在典型工作环境中,人体电容约为150pf,如果感应的电荷量约0.6μC,那么就会导致4 KV的静电势,这时人体所带静电能量是1.2毫焦耳。我们试想带电人体作用在集成电路上,会发生什么呢?它会产生一个强电场然后击穿集成电路内部的一些绝缘体或PN结;它会对集成电路内部的元器件放电,虽然时间非常短,典型值约10ns~100ns,但瞬间电流可达1A~10A,这足以造成半导体器件的热破坏。因为人体活动范围大,而人体静电又容易被人们忽视,所以人体静电放电往往是引起半导体器件静电损伤的主要原因之一,它对半导体器件的危害最大。

                   ESD的测试

ESD产生的原因及其对积体电路放电的方式不同,ESD目前被分类下列四类

(1) 人体放电模式 (Human-Body Model, HBM) 
(2) 机器放电模式 (Machine Model, MM) 
(3) 元件充电模式 (Charged-Device Model, CDM) 
(4) 电场感应模式 (Field-Induced Model, FIM) 
我们以HBM人体模式为例,HBM人体模式:人体模式是ESD模型中建立最早和最主要的模型之一IC制造和使用过程中人体和IC接触的机会最多由人体静电损伤造成IC失效的比例也最大而且在实际应用中工业界也大多采用HBM模式来标注IC的静电等级人体模式指人体在地上走动、摩擦或者其他因素在人体上已积累了静电当此人直接接触IC人体上的静电便会经IC管脚进入IC再由IC 放电到地此放电过程会在短至几百纳秒的时间内产生数安培的瞬间放电电流此电流会把IC内部元件烧毁。


HBM,这个模型建立是模拟人手接触碰芯片,人体等效电阻为1.5K,等效电容约为100pF。如下图所示:  

                                                                   HBM等效电路图


HBM的电流波形如下图所⽰,可以看到,HBM主要的持续时间⼤概为150ns。


               HBM电流波形图

                  测试值参考表


                                                                         ESD测试机



ESD测试是在半导体可靠性测试期间进行的,对于半导体设计的开发和半导体制造的最终生产过程中的质量保证都是必不可少的。在全球测试机市场中,测试机生产产品大部分被美国、日本、台湾等垄断,国内测试机生产厂家极少,只有深圳betway88中文官网光电、长川科技等企业有生产能力,其中在ESD测试中,深圳betway88中文官网光电也是国内为数不多的,在芯片测试机领域ESD测试的技术水平已经达到日本、台湾企业的水平企业。属于后起之秀的一匹黑马,也代表了国内芯片测试机领域ESD测试的最高水平。


                   betway88中文官网光电ESD测试 电流波形图

ESD测试通常会搭载在LED芯片测试机中使用,如深圳betway88中文官网光电的全自动倒装 LED 芯片测试机中就搭载了betway88中文官网光电4KV 版本的ESD放电测试仪。

      betway88中文官网光电倒装LED芯片测试机


betway88中文官网光电全自动倒装 LED 芯片测试机具有以下功能特点:


  • Prober & Tester 整合一体机设计,具有业界领先的测试速度与精度;
  • 日制高精密丝杆导轨,机械刚性强,使用寿命长,同时与精密光栅尺组合实现运动全闭环控制,具有超高精度的定位精度与长期运行的精度稳定性;
  • 整机采用仪用大理石平台与整机下沉式设计,具有极好的运行平稳性;
  • 机构尺寸优化缩小,提高厂房利用率;
  • 自主研发的实时称重式主动电极寻边器,能有效的控制好每次测试时探针与芯片电极之接触力度,保证针痕的一致性;
  • 自主倒装收光 结构,具有更高的光学灵敏度与精度,适用于最大 6 [* 1] Mini-LED 芯片、常规倒装芯片、CSP 芯片测试;
  • 可选配 1“、1.5”、2”之积分球,配置 7 档滤光片,以适用于不同亮度之芯片测试要求,可测量微电流点亮;
  • 多针设计,可实现多颗同时测量之要求,提高机器的测试产能;
  • 具有自动清针功能;
  • 机器配置有变倍针痕拍照相机,生产中自动拍摄针痕确认功能,保证稳定生产;





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